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FE-5000 OTSUKA大冢-分光器 除了能夠高精度的薄膜解析的分光中，通過實現測量角度的自動可變機構，也對應于所有種類的薄膜。除以往的旋轉檢光子法之外，通過設置相位差版的自動脫穿機構，提高了測定精度。OTSUKA大冢-分光器FE-5000OTSUKA大冢-分光器FE-5000OTSUKA大冢-分光器FE-5000
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MCPD series OTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD series
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FE-300 OTSUKA大冢-膜厚監視器 是一種通過簡單操作實現高精度光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。 采用將必要的機器收納在機身部位的一體化體型外殼，實現了穩定的數據的獲取 通過獲取低價位的優良反射率，也可以進行光學常數的分析。OTSUKA大冢-膜厚監視器FE-300OTSUKA大冢-膜厚監視器FE-300
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FE-3000 OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計 利用顯微的微小領域的優良反射率的取得，通過高精度的光干涉法的膜厚解析可能的裝置。 多種多樣的樣品的膜厚·光，除了半導體領域的圖案樣品、透鏡和鉆孔之類的形狀樣品之外，還有表面粗糙度和膜厚不均的樣品。能夠進行定數分析。OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計FE-3000OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計FE-3000
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OPTM series OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM series
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GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統 是光源單體和光學材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7series1000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7series1000
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GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統 是光源單體和光學材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7series600OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7series600
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GP-7 series 300 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統 是光源單體和光學材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 300
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GP-7 series OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7series
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MR-2000 OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MR-2000OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MR-2000OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MR-2000
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MPRT-2000 OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MPRT-2000OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MPRT-2000OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MPRT-2000
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HS-1000 OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000
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GC-1 OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器 實現真正的黑屏！ 把黑色的差異數值化。 OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1
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RETS series OTSUKA大冢-單元間隙檢查設備 從反射型·透射型的液晶封入單元到彩色過濾空單元的廣泛對應 OTSUKA大冢-單元間隙檢查設備RETS seriesOTSUKA大冢-單元間隙檢查設備RETS series
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LCF series OTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置 OTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF seriesOTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF seriesOTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF series
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OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統 熒光體1粒子的熒光特性可以測定的高靈敏度系統。 1從粒子的取出到測量的系統化。 可以測量10μm的粒子。 支持恒溫到600°C的溫度依賴性測量 OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統
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QE-5000 OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統 OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統QE-5000OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統QE-5000OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統QE-5000
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DF-1000 OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統 快速測量透過熒光的面內色度分布 OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統DF-1000OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統DF-1000OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統DF-1000
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QE-2100 OTSUKA大冢-量子效率測量系統 OTSUKA大冢-量子效率測量系統QE-2100OTSUKA大冢-量子效率測量系統QE-2100OTSUKA大冢-量子效率測量系統QE-2100
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QE-2000 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000
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LE series OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器 是能夠使LED的光學特性評價與生產線的控制信號同步，在線內高速進行的裝置。 LE-5400提供NG判定和等級分類等質量管理所必需的光學特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE series
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RH50 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統 對應微LED等微小樣品的配光測定系統RH50.。 與光學模擬軟件的聯合是可能的，可以簡單地高速取得2π空間全方位的光線。50×50mm尺寸以上請看GP-7 series。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統RH50OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統RH50OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統RH50
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GP series OTSUKA大冢-分光配光測量系統 測量照明設備配光特性的裝置。 OTSUKA大冢-分光配光測量系統GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統GP series
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GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 1000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 1000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 1000
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GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 600OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 600OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 600
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GP-7 series300 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series300OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series300OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series300
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GP-7 series OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series
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HM/FM series OTSUKA大冢-全光束測量系統 OTSUKA大冢-全光束測量系統HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束測量系統HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束測量系統HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束測量系統HM/FM series，支持符合要求的測定系統。
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GP series OTSUKA大冢-分光配光測量系統GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統GP series的裝置。
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MCPD-9800 OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器 能夠使LED的光學特性評價與生產線的控制信號同步，在線內高速進行的裝置。 LE-5400提供NG判定和等級分類等質量管理所必需的光學特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器MCPD-9800
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MCPD-6800 OTSUKA大冢-多通道分光器 對應從紫外到近紅外領域的多功能多通道分光檢測器。*短5ms能夠進行分光光譜測定。標準設備光纖可支持多種測量系統，而不必確定樣品種類。以顯微分光、光源發光、透射·反射測量為首，通過與軟件相結合，也能夠應對物體顏色評價、膜厚測量等。OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢
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MCPD-9800 OTSUKA大冢-多通道分光器 對應從紫外到近紅外領域的多功能多通道分光檢測器。*短5ms能夠進行分光光譜測定。標準設備光纖可支持多種測量系統，而不必確定樣品種類。以顯微分光、光源發光、透射·反射測量為首，通過與軟件相結合，也能夠應對物體顏色評價、膜厚測量等。OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800OTSUKA大冢
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IL100 OTSUKA大冢-照度測量系統 從分光放射照度測定中高精度地測定照度。 ·從紫外到可見、紅外的廣泛測量波長范圍。 ·可以選擇高斜入射特性等用途的照度頭。 ·光合作用研究不可缺少的PFD、PPFD也可以測定。 ·專用軟件點亮電源也統一控制。 OTSUKA大冢-照度測量系統IL100OTSUKA大冢-照度測量系統IL100OTSUKA大冢 是對基本的照度測定進行極限探究的裝置
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GP-7 series 1000UV OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統 OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 1000UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 1000UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 1000UV
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GP-7 series 600UV OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統 OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 60OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 600UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 600UV0UV
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GP-7 series 300UV OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統 紫OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統GP-7 series 300UV
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GP-510U OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統 紫外LED的配光特性.。 ·根據放射強度/放射光照度的配光評價。 ·通過分光配光評價每個波長的放射強度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-510UOTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-510U
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GP-1100 OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統 紫外LED的配光特性.。 ·根據放射強度/放射光照度的配光評價。 ·通過分光配光評價每個波長的放射強度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光測量
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GP-500 OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統 紫外LED的配光特性.。 ·根據放射強度/放射光照度的配光評價。 ·通過分光配光評價每個波長的放射強度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-500OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-500OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-500
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GP-2000 OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統 紫外LED的配光特性.。 ·根據放射強度/放射光照度的配光評價。 ·通過分光配光評價每個波長的放射強度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量
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FM-9015UV OTSUKA大冢-UV測定裝置 OTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UV
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“光譜輻照度測量系統 IL100”評估光源的照度。 ?從光譜輻照度測量中高精度測量照度 ? 從紫外線到可見光和紅外線的寬測量波長范圍? 可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應用 ?光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可 通過專用軟件進行測量和照明 電源也是集體控制 這個設備追求到精良的基礎照度測量。
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評估光源在紫外線區域的輻射。 ? 通過光譜輻射度測量高精度測量亮度 ? 支持紫外線、可見光和紅外線的寬測量波長范圍 ? 可以進行光生物 **性評估 它是一種可以測量紫外線亮度的有限設備。
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“紫外分光輻照度測量系統IL100”評估光源在紫外區的輻照度。 ?從光譜輻照度測量中高精度測量照度 ? 從紫外線到可見光的寬測量波長范圍 ?可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應用 ?可以進行生物系統評估必不可少的PFD測量 它是一種即使在紫外線區域也能實現高精度測量的設備。 產品咨詢
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評估 UV LED 的輻射通量。 ? 性能更高的紫外線 LED 的輸出評估 ? 溫度評估與溫度控制單元相結合 支持 紫外線 LED 的 光學特性評估，預計將被**、凈化和樹脂固化。
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它測量從 LED 到照明的各種光源的總光通量。 ?積分球+分光鏡支持從總光通量到顏色測量的廣泛范圍。 ?可以通過控制光源的加熱/冷卻來評估溫度特性 。繁瑣操作要求 測量精度高集成半球，樣品組方便 測量大功率激光光源瓦級對應 測量系統對應任何場景總光通量測量多年經驗，滿足需求支持。
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一種測量照明設備配光特性的裝置。 ?使用內部開發的分光鏡實現高精度測量！ -顏色可以與光分布數據一起測量！- 即使在光譜測量中也可實現相當于照度計類型的高速測量！ ?可根據配光測量結果進行照度分析！!! -符合標準測量系統！
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彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢LCF SERIES
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可以立即測量優良量子效率（優良量子產率）。與粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區的雜散光。此外，通過采用積分半球單元，可以實現明亮的光學系統，并通過利用這一點重新激發熒光校正，可以進行高精度的測量。此外，QE-2100 能夠測量量子效率的溫度依賴性，并支持從紫外到近紅外的寬波長范圍。
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ELSZneo通過光散射評估物理特性 進入新階段]這是 ELSZ 系列的*高型號，可測量稀溶液至濃溶液中的 zeta 電位和粒徑以及分子量。作為一項新功能，我們采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還支持粒子濃度測量、微流變學測量和凝膠網絡分析。 新型 zeta 電位板單元具有新開發的高鹽濃度涂層，可在生理鹽水等高鹽濃度環境中進行測量。我們還有一系列超痕量細胞單元，可以測量 3 μL 的粒徑，擴展了生命科學領域的可能性。
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除了常規的zeta電位和粒度測量之外，它是一種可以用稀到濃溶液測量分子量的設備。 支持粒度測量范圍（0.6 nm 至 10 μm）和濃度范圍（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量為 130 μL 或更大的一次性電池進行測量，通過實際測量電滲流，可以實現高精度的 zeta 電位測量。 此外，通過在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內自動進行溫度梯度測量，可以進行變性/相變溫度分析。
